电子元器件失效分析技术

摘要

丛书序

前言

第一篇 电子元器件失效分析概论

第1章 电子元器件可靠性

第2章 电子元器件失效分析

第二篇 失效分析技术

第3章 失效分析中的电测试技术

第4章 显微形貌分析技术

第5章 显微结构分析技术

第6章 物理性能探测技术

第7章 微区成分分析技术

第8章 应力试验技术

第9章 解剖制样技术

第三篇 电子元器件失效分析方法和程序

第10章 通用元件的失效分析方法和程序

第11章 机电元件的失效分析方法和程序

第12章 分立器件与集成电路的失效分析方法和程序

第13章 混合集成电路的失效分析方法和程序

第14章 半导体微波器件的失效分析方法和程序

第15章 板级组件的失效分析方法和程序

第16章 电真空器件的失效分析方法和程序

第四篇 电子元器件失效预防

第17章 电子元器件失效模式及影响分析方法

第18章 电子元器件故障树分析方法

第19章 工程应用中电子元器件失效预防方法

附录A 英文缩略词及术语

附录B 主要符号表